[1]
Д. Мелебаев, Г. Д. Мелебаева, Ю. В. Рудь, і В. Ю. Рудь, «Новые возможности фотоэлектрического метода определения высоты барьера в структурах Au–n-GaAs», TKEA, вип. 3, с. 33-37, Чер 2007.