http://dx.doi.org/10.15222/TKEA2018.5-6.03

УДК 004.33

Здатнiсть псевдокiльцевих тестiв виявляти динамiчнi одиночнi несправностi у словоорiєнтованiй пам’ятi

Гріцков С. С., Сорокін Г. Ф., Шестакова Т. В.
(англійською мовою)

Ключові слова: динамічні одиночні несправності, псевдокільцеве тестування, ітеративність.

У даній роботі представлені одиночні динамічні несправності цифрової пам’яті і методи їхнього вияв-лення. Детально розглянуто такі динамічні несправності, як динамічне руйнувальне читання (Dynamic Read Destructive Fault — dRDF), динамічне уявне руйнуюче читання (dynamic Deceptive Read Destructive Fault — dDRDF) і динамічне некоректне читання (dynamic Incorrect Read Fault — dIRF).
Існують різні методики виявлення даних несправностей. Найбільш популярною методикою є маршові тести, оскільки таким тестам властива лінійна алгоритмічна складність, яка визначає число операцій, що проводяться над кожною коміркою пам’яті в процесі тестування. Дана особливість визначає мінімальний час виконання тесту.
Альтернативою маршовим тестам є псевдокільцеві тести. Їхньою перевагою над іншими існуючими ме-тодами тестування є низька апаратна складність. Псевдокільцеві тести мають лінійно алгоритмічну складність. Вони непогано досліджені відносно класичної однобітної пам’яті, але що стосується словоорієнтованої пам’яті, тут дослідження псевдокільцевого тестування практично відсутні.
У даній роботі розглядаються псевдокільцеві тести по відношенню до одиночних динамічних несправно-стей на прикладі чотирьохбітної пам’яті. Представлена загальна ідея iтеративного псевдокільцевого тестування. Детально розглянуто принцип виявлення dRDF, dDRDF і dIRF, а також представлено здатність псевдокільцевих тестів виявляти дані несправності.
Показано, що псевдокільцеві тести мають не гіршу здатність виявляти вказані несправності, ніж маршові тести. За результатами роботи видно, що псевдокільцеві тести з алгоритмічною складністю (30—60)N, де N — кількість всіх осередків пам’яті, дозволяють покрити від 75 до 100% всіх одиночних динамічних несправностей, що вказує на можливість їхнього використання як альтернативи існуючим тестам.

Молдова, м. Кишинiв, Технiчний Унiверситет Молдови.

Опис статті для цитування: Gritcov S. S., Sorokin G. F., Shestacova T. V. Pseudo-ring tests resolution for dynamic single faults in word-oriented memory. Tekhnologiya i Konstruirovanie v Elektronnoi Apparature, 2018, no. 5-6, pp. 3–9. http://dx.doi.org/10.15222/TKEA2018.5-6.03