Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов

  • С. П. Павлюк Киевский национальный университет имени Тараса Шевченко, Украина
  • Л. В. Ищук Институт электросварки им. Е. А. Патона НАНУ, Київ, Україна
  • В. М. Кислицын Институт электросварки им. Е. А. Патона НАНУ, Київ, Україна
Ключові слова: тепловое поле, диод, диагностика, рекомбинация

Анотація

тепловое поле, диод, диагностика, рекомбинация.

Обоснована возможность использования инфракрасного излучения полупроводников для экспресс-диагностики качества полу­проводниковых диодных кристаллов. Разработан метод разделения рекомбинационной и тепловой составляющей излучения разогретого диодного кристалла. Показана возможность подбора режима пайки диодного кристалла, при котором он разогревается однородно, по его излучению.

Опубліковано
2004-06-30
Як цитувати
Павлюк, С. П., Ищук, Л. В., & Кислицын, В. М. (2004). Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов. Технологія та конструювання в електронній апаратурі, (3), 62-64. вилучено із https://tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2004.3.62
Номер
№ 3 (2004): Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Розділ
Articles

Авторське право (c) 2004 Павлюк С. П., Ищук Л. В., Кислицын В. М.

Creative Commons License

Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution 4.0 International License.