Моделирование технического ресурса радиоэлектронных средств
Анотація
Рассматривается возможность использования законов неравновесной термодинамики для определения связи между контролируемыми параметрами радиоэлектронных средств (РЭС) и отображаемой среды, а также построение детерминированной термодинамической модели процессов развития производственных дефектов. Предложена модель процесса расходования ресурса РЭС, основанная на термодинамическом подходе при описании деградационных процессов, которые ограничивают время работы аппаратуры.
Посилання
Davydov P.S. Tekhnicheskaya diagnostika radioelektronnykh ustroistv i sistem. [Technical diagnostics of electronic devices and systems]. Moscow, Radio and communication, 1991, 256 p. (Rus)
Strel`nikov V.P., Fedukhin A.V. Otsenka i prognozirovanie nadezhnosti elektronnykh elementov sistem [Evaluation and prediction of reliability of electronic systems elements]. Kiev, Logos, 2002, 486 p. (Rus)
Andrusevich A. A., Nevlyudov I. Sh., Rozdolovskii Yu. M., Vtorov E. P., Sotneyk S. V. [Estimating properties of the materials forming wirings of electronic equipment]. Tekhnologiya priborostroeniya. 2005, no 2, pp. 51–59. (Rus)
Andrusevich A. A., Nevlyudov I. Sh., Omarov M. A., Vtorov E. P. [Thermodynamics methods in modeling the process of spending life electronic equipment]. Tekhnologiya priborostroeniya. 2007, no 2, pp. 10–12. (Rus)
Andrusevich A. A., Nevlyudov I. Sh. [How the system will monitor the resource consumption of electronic equipment]. Radioelektronni i komp’yuterni sistemi. 2012, no 1, pp. 7–10. (Rus)
Chaplygin D. Yu., Abramov P. B., Tsvetkov V. V. [Simulation model of the dynamics of failure and disaster recovery of complex electronic systems]. Matematicheskoe modelirovanie sistem obrabotki informatsii i upravleniya: Sbornik nauchnykh trudov. Voronezh. in-t MVD Rossii. 2001, pp. 14–19. (Rus)
Chernyaev V.N. Fiziko-khimicheskie protsessy v tekhnologii REA [Physico-chemical processes in the technology of electronic equipment]. Moscow, Higher School, 1987, 376 p. (Rus)
Nevlyudov I.Sh., Rozdolovskii Yu.M., Andrusevich A.A. [Heterogene model of development production of defects]. Nauch.-tekhn. zhurnal. Aviatsionno-kosmicheskaya tekhnika i tekhnologiya. Khar`kov: «KHAI». 2003, no 38, pp. 114-119. (Rus)
Nevlyudov I.Sh., Vtorov E.P., Rozdolovskii Yu.M. [Kinetic models of development defects arising in the manufacture of electronic equipment]. Nauch.-tekhn. zhurnal. Aviatsionno-kosmicheskaya tekhnika i tekhnologiya. Khar`kov: «KHAI». 2003, no 39, pp. 76-81. (Rus)
Sotskov B.S. Osnovy teorii i rascheta nadezhnosti elementov i ustroistv avtomatiki i vychisli-tel`noi tekhniki. [Fundamentals of the theory and calculation of reliability of the components and devices of automation and computing]. Moscow, Visshaya shkola, 1970, 270 p. (Rus)
Ogarkov M.A. Metody statisticheskogo otsenivaniya parametrov sluchainykh protsessov [Statistical methods for estimating the parameters of stochastic processes]. Moscow, Energoatomizdat, 1990, 208 p. (Rus)
Nevlyudov I. Sh., Rosdolovsky Y. M. [Mapping processes of manifestations technological heredity electronic equipment]. Nauch.-tekhn. sb. «Radiotekhnika». Khar`kov, KHNURE, 2003, no 133, pp. 218-221. (Rus)
Авторське право (c) 2014 Невлюдова В. В.

Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution 4.0 International License.