Датчики Холла на основе структур GaAs, полученных низкотемпературной ЖФЭ из расплавов Bi

  • Н. М. Вакив НПП «Карат», Львов, Украина
  • С. И. Круковский НПП «Карат», Львов, Украина
  • И. Р. Завербный НПП «Карат», Львов, Украина
  • И. А. Мрыхин НПП «Карат», Львов, Украина
Ключові слова: датчики Холла, структуры GaAs, висмутовый расплав, жидкофазная эпитаксия, низкотемпературная ЖФЭ, полуизолирующий арсенид галлия

Анотація

Рассматриваются особенности получения эпитаксиальных структур п. и.-GaAs—n-GaAs: Sn для датчиков Холла методом низкотемпературной “висмутовой” жидкофазной эпитаксии (ЖФЭ). На основе этих структур изготовлены датчики Холла, имеющие низкие температурные коэффициенты холловского (0,08%/К) и остаточного (0,1мкВ/К) напряжения, а также высокую нормированную чувствительность (~150 В/А·Т). Сравнение однородности эпитаксиальных структур, изготовленных методами ГФЭ, МОС-гидридной эпитаксией и ЖФЭ показало, что наиболее однородными по толщине и концентрации являются структуры, выращенные низкотемпературной “висмутовой” ЖФЭ.

Опубліковано
2002-06-30
Як цитувати
Вакив, Н. М., Круковский, С. И., Завербный, И. Р., & Мрыхин, И. А. (2002). Датчики Холла на основе структур GaAs, полученных низкотемпературной ЖФЭ из расплавов Bi. Технологія та конструювання в електронній апаратурі, (3), 34-37. вилучено із https://tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2002.3.34