№ 5 (2008): Технология и конструирование в электронной аппаратуре

Articles

• Фракталы, скейлинг и дробные операторы как основа новых методов обработки информации и конструирования фрактальных радиосистем

  A. A. Потапов

  3-19

  • PDF
• Сопротивление контактов тонкопленочного резистора

  В. Г. Спирин

  20-23

  • PDF
• Реализация арифметических операций с комплексными числами на ПЛИС

  В. Н. Опанасенко, А. Н. Лисовый, В. Г. Саха

  24-30

  • PDF
• Датчики на поверхностных акустических волнах для дистанционного контроля температуры

  В. Ф. Катаев, А. С. Багдасарян, Г. Я. Карапетьян, В. Г. Днепровский

  31-32

  • PDF
• Особенности проектирования внутренних цепей питания микромощных БИС на основе элементов инжекционной логики

  А. И. Белоус, В. А. Емельянов, В. С. Сякерский, А. В. Силин

  33-35

  • PDF
• Химическое осаждение из газовой фази гетеро- и наноструктур соединений III–V

  В. А. Воронин, С. К. Губа, И. В. Курило

  36-40

  • PDF
• Информационные параметры для реализации адаптивной зарядки вторичных химических источников тока

  Н. Е. Житник, Ю. Л. Миропольский, С. В. Плаксин, Л. М. Погорелая, И. И. Соколовский

  40-42

  • PDF
• Приборно-технологическое моделирование автоэмиссионных кремниевых микрокатодов

  А. A. Дружинин, В. И. Голота, И. Т. Когут, С. В. Сапон, Ю. М. Ховерко

  43-49

  • PDF
• Макет экспериментальной установки для исследования пространственно-временного интегрирования в акустооптической среде

  А. Н. Рудякова, А. Ю. Липинский, В. В. Данилов

  50-55

  • PDF
• Прогнозирование диэлектрических свойств некристаллизующейся моноармированной полиматричной стеклокерамики

  М. В. Дмитриев, И. Н. Еримичой, Л. И. Панов, Е. Л. Панова

  58-62

  • PDF
• Влияние исходных дефектов на распределение механических напряжений и деформаций при окислении кремния

  О. А. Кулинич, В. А. Смынтына, М. А. Глауберман, Г. Г. Chemeresyuk, И. Р. Яцунский

  62-64

  • PDF